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1. Identificação
Tipo de ReferênciaArtigo em Revista Científica (Journal Article)
Sitemtc-m16.sid.inpe.br
Código do Detentorisadg {BR SPINPE} ibi 8JMKD3MGPCW/3DT298S
Identificador6qtX3pFwXQZsFDuKxG/Ctgx9
Repositóriosid.inpe.br/marciana/2004/06.15.15.36
Última Atualização2013:04.30.19.15.52 (UTC) administrator
Repositório de Metadadossid.inpe.br/marciana/2004/06.15.15.36.51
Última Atualização dos Metadados2018:06.05.01.20.53 (UTC) administrator
Chave SecundáriaINPE-10727-PRE/6188
DOI10.1063/1.1436271
ISBN/ISSN0003-6951
ISSN0003-6951
Chave de CitaçãoMorelhãoBritAbra:2002:NaSoFi
TítuloNanostructure of sol-gel films by x-ray specular reflectivity
ProjetoTECMAT: Tecnologia de materiais / Difração de raio-x de alta resolução
Ano2002
MêsJan.
Data de Acesso18 maio 2024
Tipo SecundárioPRE PI
Número de Arquivos1
Tamanho524 KiB
2. Contextualização
Autor1 Morelhão, S. L.
2 Britto, G. E. S.
3 Abramof, Eduardo
Grupo1
2
3 LAS-INPE-MCT-BR
Afiliação1 Universidade de São Paulo, Instituto de Física (USP)
2 Universidade de São Paulo, Instituto de Física (USP)
3 Instituto Nacional de Pesquisas Espaciais, Laboratório Associado de Sensores e Materiais (INPE.LAS)
Endereço de e-Mail do Autor1
2
3 eduardo.abramof@inpe.br
RevistaApplied Physics Letters
Volume80
Número3
Páginas407-409
Histórico (UTC)2006-09-28 22:25:40 :: administrator -> marciana ::
2008-02-20 17:23:09 :: marciana -> administrator ::
2013-03-08 17:10:34 :: administrator -> marciana :: 2002
2013-04-30 19:15:52 :: marciana -> administrator :: 2002
2018-06-05 01:20:53 :: administrator -> marciana :: 2002
3. Conteúdo e estrutura
É a matriz ou uma cópia?é a matriz
Estágio do Conteúdoconcluido
Transferível1
Tipo do ConteúdoExternal Contribution
Tipo de Versãopublisher
Palavras-Chaveerbium compounds
nanostructured materials
sol-gel processing
X-ray reflection
density
insulating thin films
optical films
ResumoRecently, several studies have been carried out on sol-gel films for optical applications, mostly motivated by the quickness and low cost of the film preparation process. In order to preserve the coherence properties of the light, improvements in the current quality of such films are necessary as well as appropriated techniques for structural characterization and quality control. X-ray specular reflectivity could be one of such techniques, but it is limited by the complexity of the internal nanostructure of the films. In this work, we have developed a procedure to extract the exact density profile of sol-gel films, and applied it to analyze a sol-gel derived Er_2O_3 film.
ÁreaFISMAT
Arranjourlib.net > BDMCI > Fonds > Produção anterior à 2021 > LABAS > Nanostructure of sol-gel...
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4. Condições de acesso e uso
URL dos dadoshttp://urlib.net/ibi/6qtX3pFwXQZsFDuKxG/Ctgx9
URL dos dados zipadoshttp://urlib.net/zip/6qtX3pFwXQZsFDuKxG/Ctgx9
Idiomaen
Arquivo AlvoApplPhysLett_80_407.pdf
Grupo de Usuáriosadministrator
marciana
Visibilidadeshown
Detentor da CópiaSID/SCD
Política de Arquivamentoallowpublisher allowfinaldraft
Permissão de Leituraallow from all
Permissão de Atualizaçãonão transferida
5. Fontes relacionadas
Unidades Imediatamente Superiores8JMKD3MGPCW/3ESR3H2
URL (dados não confiáveis)http://dx.doi.org/10.1063/1.1436271
DivulgaçãoWEBSCI; PORTALCAPES; COMPENDEX.
Acervo Hospedeirosid.inpe.br/banon/2003/08.15.17.40
6. Notas
Campos Vaziosalternatejournal archivist callnumber copyright creatorhistory descriptionlevel e-mailaddress format isbn label lineage mark mirrorrepository nextedition notes orcid parameterlist parentrepositories previousedition previouslowerunit progress readergroup resumeid rightsholder schedulinginformation secondarydate secondarymark session shorttitle sponsor subject tertiarymark tertiarytype typeofwork
7. Controle da descrição
e-Mail (login)marciana
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